biolight.pro
Мониторинг поверхностного заряда частиц HACH LXV510.99.22010
HACHHACH·Арт.: 0015715·Арт. произв.: LXV510.99.22010

Мониторинг поверхностного заряда частиц HACH LXV510.99.22010

Под заказпо запросу

Система мониторинга поверхностного заряда частиц HACH LXV510.99.22010 (AF7000 SCM) предназначена для непрерывного анализа электрокинетического потенциала частиц в потоке с функцией автоматической очистки. Оборудование работает от сети 220 VAC.

Описание

Система мониторинга поверхностного заряда частиц HACH LXV510.99.22010 (AF7000 SCM) предназначена для непрерывного анализа электрокинетического потенциала частиц в потоке с функцией автоматической очистки. Оборудование работает от сети 220 VAC.

Область применения

Система LXV510.99.22010 используется для контроля стабильности коллоидных систем и мониторинга поверхностного заряда частиц в режиме реального времени. Это критически важно в процессах водоподготовки, очистки сточных вод и в химическом синтезе для оптимизации дозирования коагулянтов и флокулянтов.

Технические характеристики

  • Модель: LXV510.99.22010 (AF7000 SCM)
  • Производитель: HACH
  • Назначение: Мониторинг поверхностного заряда частиц в потоке
  • Особенности: Наличие системы автоматической очистки датчика для предотвращения загрязнения и дрейфа показаний
  • Электропитание: 220 VAC

Принцип работы

Прибор измеряет электрокинетические свойства частиц, что позволяет определить дзета-потенциал или аналогичный показатель заряда. Автоматическая очистка обеспечивает стабильную работу датчика в агрессивных средах или при высокой концентрации взвешенных веществ, минимизируя необходимость ручного обслуживания.

Характеристики

Производитель/Серия

ПроизводительHACH

Назначение изделия

Назначение изделияАксессуары

Запросить коммерческое предложение